FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測厚儀核心技術與性能
測量原理:運用 X 射線熒光光譜法,實現對鍍層厚度的精準測量,采用無損檢測方式,具備自動聚焦功能,可保障樣品完整性與測量準確性。
元素測量范圍:涵蓋 Cl(17)-U(92),最多可同時測量 24 種元素、23 層鍍層。
硬件性能:
動 X/Y 平臺:移動范圍≥95x150mm,可用工作臺面≥420x450mm,能滿足多樣品放置與測量需求。
電動 Z 軸:支持手動 / 自動聚焦,移動范圍≥140mm,可適配不同高度樣品。
DCM 技術:采用測量距離補償法(DCM),可實現 80mm 深度的腔體樣品遠距離對焦測量。
高壓調節:可變高壓支持 30KV、40KV、50KV 三檔調節,可靈活應對不同測試場景。
準直器:配備 φ0.3 的圓形準直器,可提升測量精度,還有 φ0.1mm、φ0.2mm 及長方形 0.3mmx0.05mm 等可選準直器。
X 射線探測器:采用比例接收器,確保信號穩定接收。
攝像頭:高分辨率 CCD 攝像頭,放大倍數 40 - 160 倍,便于樣品觀察定位,沿初級 X 射線光束方向觀察測量位置,有手動聚焦、十字線(帶有經過校準的刻度和測量點尺寸)、可調節亮度的 LED 照明,激光光點用于準確定位樣品。
軟件與數據處理
操作系統與軟件:基于 Windows 7 以上中文操作界面,搭載 WinFTM 專業測試軟件,配備連接 PC 和打印機的 USB 接口。
統計計算功能:數據組集成時間和日期功能,具備平均值、標準偏差、最大值、最小值等統計計算;支持公差范圍輸入,可計算 CP 和 Cpk 值,超范圍自動報警提示。
校準與判定:采用基本參數法,內置 12 純元素頻譜庫,實現無標準片校準測量;具備 MQ 值顯示,用于判斷測量程式與樣品匹配度,防止誤操作。
標準片:配備 12 種基準純元素(Ag, Cu, Fe, Ni, Zn, Zr, Mo, Sn, W, Au, Pb, Cr)標準片。
儀器參數
電源要求:200V,50Hz,功率最大 120W(不包括計算機)。
保護等級:IP40。
外部尺寸:寬 x 深 x 高(mm)為 570x760x650。
內部測量室尺寸:寬 x 深 x 高(mm)為 460x495x140。
重量:107KG。
使用溫度:10℃-40℃。
存儲或運輸溫度:0℃-50℃。
空氣相對濕度:≤95% 無結露。
應用領域
工業生產:測量大規模生產的電鍍部件,適用于汽車、航空航天、電子等行業的零部件鍍層檢測,如汽車發動機零部件、航空航天金屬結構件、電子設備外殼等的鍍層厚度測量和質量控制。
電子行業:測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層,如芯片引腳、印刷線路板上的銅箔鍍層、金手指鍍層等,確保電子產品的電氣性能和可靠性。
裝飾行業:測量超薄鍍層,例如裝飾鉻,用于家具、衛浴五金、飾品等裝飾性產品的鍍層厚度檢測,保證產品的美觀和耐用性。