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測鍍層X熒光光譜儀 規格:
1.元素分析范圍:硫-鈾(S-U)
2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%
3.zui低檢出限:1PPM
4.鍍層檢驗厚度:0.005-50μm(視材料類型而有所不同)
5.樣品腔尺寸:150*120*50(MM)
測鍍層X熒光光譜儀 應用領域:
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環保檢測
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