- 儀器介紹
本實驗研究高斯光束 的特性參數，以及高斯光 束通過薄透鏡的傳輸和變 換性質，重點對光束質量 的評價和測量進行了闡述。 建立了一套以CCD為光 斑探測器，結合計算機和 測量軟件的光斑測量系統。測量了He-Ne激光器的光束光強分布，計算出高斯光束參數，并用雙曲線擬合法測量出質量因子。整套系統光路結構簡單，使用面陣CCD作為探測系統，激光束經衰減后直接照射在CCD上，這樣CCD采集到的圖像大小和形狀與入射的激光光束截面大小和形狀相同(用像素的大小表示)。并對圖像進行必要的處理，主要是進行圖像平滑處理和進行圖像灰度校準。隨后選取經過校準的數字圖像信號進行分析和計算，求出激光束的相關參數。本實驗涉及光、機、電等方面知識，很適合于光學專業實驗教學，也可用于普通要求下的光斑測量。
- 產品特點
· 1、本實驗屬于激光原理系列實驗，契合光電信息實驗室建設需要。
· 2、實驗系統做了精簡設計，操作更加方便。
· 3、采用德國進口工業CCD攝像機，靈敏度更高，動態范圍更寬。
· 4、帶軟件開發包，方便客戶基于CCD相機進一步開發新的實驗。
- 實驗內容
1、高斯光束參數測量實驗，光斑直徑，發散角，束腰半徑，能量分布圖形。
2、高斯光束的變換和參數測量。
