不僅做動態(tài)老化,還具備DUT(受測器件:Device Under Test)的輸出信號監(jiān)視功能。用這個功能對DUT的動作進行監(jiān)視,防止篩選漏網(wǎng),主要試驗對象為SDRAM,SRAM等內(nèi)存類,CPU,ASIC,系統(tǒng)LSI等邏輯裝置,也對應(yīng)各種MOS形的IC。 更多詳細(xì)信息請瀏覽以下:
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半導(dǎo)體老化篩選設(shè)備
參考價 | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱廣東宏展科技有限公司
- 品 牌
- 型 號
- 所 在 地
- 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
- 更新時間2019/12/24 14:09:44
- 訪問次數(shù)461
產(chǎn)品標(biāo)簽:
廣東宏展科技有限公司,以“環(huán)境模擬”為經(jīng)營課題,專注于高低溫試驗箱、高低溫濕熱試驗箱、快速溫度循環(huán)試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、高溫老化箱、工業(yè)烤箱、精密烘箱、熱流儀的制造、研發(fā),銷售。
試驗箱
不僅做動態(tài)老化,還具備DUT(受測器件:Device Under Test)的輸出信號監(jiān)視功能。用這個功能對DUT的動作進行監(jiān)視,防止篩選漏網(wǎng),主要試驗對象為SDRAM,SRAM等內(nèi)存類。
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