X2072型陰極發光EDS能譜儀

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產品簡介

適用于大多數樣品，包括薄片、粉末、碎片、透明與非透明樣品，無需對樣品進行噴碳或噴金處理可通過不同大小的光孔對礦物或試樣進行微區分析（小至50~100μm）可通過對束斑大小的調節，得到礦物未知成分的平均值電子束激發X射線熒光強度高，強度要大于X射線激發源的激發強度約4-5個數量級，測試時間短電子束入射樣品深度很淺（僅僅為1-2μm左右），實現表面分析

詳細介紹

適用于大多數樣品，包括薄片、粉末、碎片、透明與非透明樣品，無需對樣品進行噴碳或噴金處理
可通過不同大小的光孔對礦物或試樣進行微區分析（小至50~100μm）
可通過對束斑大小的調節，得到礦物未知成分的平均值
電子束激發X射線熒光強度高，強度要大于X射線激發源的激發強度約4-5個數量級，測試時間短
電子束入射樣品深度很淺（僅僅為1-2μm左右），實現表面分析。
除激發的特征X射線被探測以外，沒有其他的噪聲信號被探測，分析結果準確
探測器可探測的元素范圍為11(Na)～92(U)
對Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn等主量元素的分析結果譜線重復性好。
全自動分析內建診斷功能，操作簡便。