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北京中瑞先創科技有限公司
單點反射臺該反射臺/探頭支架可以為直徑達150毫米的基片或者光學層進行遠距離和近距離反射測量
該反射臺/探頭支架可以為直徑達150毫米的基片或者光學層進行遠距離和近距離反射測量。
它可容納光纖探頭和直徑達6.35mm的其它采樣光學器件,上下滑動不銹鋼柱可調節高度至樣品上約63.5mm的位置。它可以與顯微鏡或者電鏡的接口相連接,使光透射到光譜儀上,進行全光譜分析。
產品詳情
靈活 — 探頭可被定位在基臺以上63.5mm(2.5″)的位置
規格
工程規格 | STAGE |
芯片直徑: | 152.4mm |
采樣區直徑: | 101.6mm |
重量: | 620 g |
高度: | 橫桿可調至63.5mm高度 |
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