詳細摘要： 芯片動態老化測試系統，高低溫在線測試系統是為航空、航天等單位開發生產的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設備。能使用戶在高低溫條件下對半導體分立器件、光耦、...
產品型號：所在地：成都市更新時間：2025-06-04 在線留言注塑機 擠出機 造粒機 吹膜機 吹塑機 吹瓶機 成型機 吸塑機 滾塑機 管材生產線 板材生產線 型材生產線 片材生產線 發泡設備 塑料壓延機
成都中冷低溫科技有限公司
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詳細摘要： 芯片動態老化測試系統，高低溫在線測試系統是為航空、航天等單位開發生產的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設備。能使用戶在高低溫條件下對半導體分立器件、光耦、...
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詳細摘要： 電子元器件高低溫在線測試系統，高低溫在線測試系統是為航空、航天等單位開發生產的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設備。能使用戶在高低溫條件下對半導體分立器件...
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詳細摘要： 沖擊試驗箱 導通電阻測試系統方案，，本系統針對 PCB 通路電阻測試中阻值低、測試精度高的要求，克服了手工測量過程中可能出現的干擾、不穩定等技術問題，實現了對 ...
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詳細摘要： zonglen高低溫載物臺測試臺，是一種用于微電子器件測試的重要設備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環境下進行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高精度。
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詳細摘要： 電阻 器件溫度系數測試系統，本系統針對 PCB 通路電阻測試中阻值低、測試精度高的要求，克服了手工測量過程中可能出現的干擾、不穩定等技術問題，實現了對 PCB ...
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詳細摘要： 中冷HAST高低溫試驗箱老化高加速，試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用...
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詳細摘要： HAST加速模擬老化測試箱，試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品...
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詳細摘要： HAST高加速老化模擬測試箱，試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產...
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詳細摘要： zonglen高低溫氣流循環沖擊機 熱流罩TS780， 的性能達到了更高的標準。溫度從+125℃到-55℃之間轉換僅需10 秒，并有更廣泛的溫度范圍-80℃到 ...
產品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-30 在線留言
詳細摘要： 接觸式高低溫沖擊機zonglen可替intest ThermoTest TS-660T是一臺精密的接觸式高低溫沖擊機，采用*的設計和技術，具有廣泛的溫度范圍：-...
產品型號：TS-660T所在地：成都市更新時間：2025-04-30 在線留言
詳細摘要： 集成電路IC芯片溫度沖擊測試機 熱流罩，性能達到了更高的標準。TS-780以速度、精度和可靠性作為基本設計標準，提供了非常*的溫度測試能力。溫度轉換從-55℃到...
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詳細摘要： zonglen高低溫氣流沖擊試驗機替代inTest，是一臺精密的高低溫沖擊氣流儀，具有更廣泛的溫度范圍-65℃到+225℃，提供了非常*的溫度轉換測試能力。溫度...
產品型號：ThermoTST所在地：成都市更新時間：2025-04-30 在線留言
詳細摘要： HAST高加速壽命試驗機Burn-in Chamber，試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速...
產品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-21 在線留言
詳細摘要： （售價僅供參考）zonglen接觸式芯片高低溫沖擊測試設備ATC860，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼...
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詳細摘要： HAST測試機高加速壽命試驗機Burn-in system，是用于調查分析何時出現電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設備，其目的是提高環境應力與工...
產品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-21 在線留言
詳細摘要： （售價僅供參考）用于芯片測試的接觸式高低溫設備，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與...
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詳細摘要： （售價僅供參考）溫度強迫系統接觸式高低溫測試 ATC840，用于需求高溫、低溫、高低溫進行測試/溫度控制的工藝，如：材料特性分析、溫度循環測試、快速溫變測試、溫...
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詳細摘要： （售價僅供參考）Flex TC接觸式高低溫設備 維修服務，接觸式高低溫設備是以色列Mechanical Devices公司研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通...
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詳細摘要： CAF測試系統HAST高加速老化試驗箱，CAF測試也叫離子遷移測試，CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質的實驗方法。該測試通常用于檢測包裝材料、食品接觸材...
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詳細摘要： 高低溫CHUCK，是一種用于微電子器件測試的重要設備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環境下進行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高精度。
產品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-21 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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