兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱分為高溫室和低溫室，其箱體結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)采用*的斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物*靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷、熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的。在試驗(yàn)過程中我們也許會(huì)碰到試驗(yàn)箱提籃不工作，出現(xiàn)此類現(xiàn)象的原因是什么呢？
1、溫度沖擊試驗(yàn)箱提藍(lán)卡死，打開試驗(yàn)箱門，目測(cè)提籃是否有卡住現(xiàn)象；
2、氣動(dòng)電磁閥損壞，導(dǎo)致氣缸氣路無法切換，提籃只能停留在起始位置，氣缸內(nèi)部不密封；
3、外部電源未供氣或調(diào)壓閥損壞；
4、鋼絲繩松動(dòng)或斷裂。
兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T10592-2008 高低溫箱技術(shù)條件
GJB150.-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)
GJB360A-1996方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求
GJB 360.7-1987 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)
文章來源：北京雅士林試驗(yàn)設(shè)備有限公司
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