光焱科技 LQ-50X 高靈敏電致發光效率測試系統 介紹
目前 LED 發展所面臨的挑戰包含：
(1) 新型態的 LED 具備低亮度 (< 50000 cd/m2)、衰減快的特性
(2) 發光半寬（FWHM）較傳統 LED 小 (OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)
(3) 非朗伯體 (Non-Lambertian) 分布，使得輝度 (cd/m2) 換算 EQE 時誤差很大
(4) 發光波長超過視函數波段 (可見光范圍)，無法以光通量與輝度評價
其中「衰減快」與「紅外發光的準確評價」，是與轉換效率高低最息息相關，因此光焱科技推出 LQ-50X，采用單光子偵測技術、NIR 增強光學設計與組件并擁有簡便的設計可與手套箱直接整合。
特色
LQ-50X 高靈敏電致發光效率測試系統 的特色如下：
*采用單光子偵測技術，克服傳統光譜儀在低亮度需要長曝光時間 (1~3秒) 的特征，加快測試速度，以確保測試的準確性與高效率。
*采用 NIR 增強光學設計與組件，使其涵蓋波長可達到 1100 nm，更可擴展到 1700 nm。
*設計簡便，并且可與手套箱直接整合，同時對于各種樣品形式都可以做很好的適配。
LQ-50X 可快速測試每個電壓下的發光光譜，并可取得輻照度、輝度、CIE坐標等多項參數值，實測無機 LED 測試量測不重復性小于 0.2 %。
LQ-50X 為 NIST 溯源，與國外校正的白光與綠光 LED 比對，差異值小于 0.5 %。
規格
標準配置：
*全向式收光系統 (50 mm 積分球)
*增強型多信道光譜儀測試系統
*探針系統
*量測軟件
*工控機與屏幕
選配規格：
*紅外光譜擴充模塊 (900 – 1700 nm)
*手套箱整合套件
應用范圍
LQ-50X 高靈敏電致發光效率測試系統 可用于：
*Perovskite LED / Perovskite Laser Diode
*Organic IR LED
*QD LED / QD Laser Diode
*VESEL Laser Diode
實證
量測結果總覽
